はい、可能です。方法を二つご紹介いたします。

[1] SECDED回路の判定能力を確認するためには、 ECC test mode をご利用ください。条件を自由に設定できます。

[2] 実際のフラッシュメモリ素子からSECDED回路へデータ入力する場合は、フラッシュメモリAPI Fapi_issueProgrammingCommand() でテスト用のデータをフラッシュメモリへ書き込んでください。エラー注入に対応しております。