
宇宙空間で使用される電子部品は、地球上とは比較にならないほど過酷な放射線環境に晒されます。
このような環境下では、半導体デバイスは放射線の影響を受け、特性劣化、誤動作、損傷を引き起こす可能性があります。
主な放射線影響として、
・TID(Total Ionizing Dose effects:トータルドーズ効果)
・SEE(Single Event Effects:シングルイベント効果)
が知られています。
宇宙機器開発において、これらの放射線影響に対する耐性評価は非常に重要です。
その中で、マクニカでは『宇宙用半導体デバイスの信頼性』に関するサポートのご提供を開始しました。デバイスに対する国内外の外部施設における耐放射線性試験、検査、解析の実施支援、施設側とのインターフェース業務についてサポートをさせていただく内容となります。
▶マクニカ支援サービスについて知る
宇宙機器開発におけるELDRSとは
ELDRS(Enhanced Low Dose Rate Sensitivity:低ドーズ率増速劣化)は、TID現象の一つです。
特にBipolarやBiCMOS構造のIC部品で低ドーズ率の照射によって発生するデバイスの劣化であり、同じ総ドーズ量(TID)の照射であっても、高ドーズ率の場合よりも大きな損傷を引き起こす可能性があることが判明しています。
また、TID試験に対する要求事項や手順等を記述したいくつかの公的文書にもELDRS評価に関する記載がされており、近年ELDRSに対する評価の重要性は高まりつつあります。
マクニカの提供するELDRS試験支援サービスの特徴
・MLS-STD-883 TM1019,ESCC22900などに対応
・試験に必要なハードウェア、ソフトウェアの相談可
・米国の協力会社施設を利用
・照射試験データの提出、レポートの作成
・具体的な試験項目、試験条件についても相談可
支援サービスの流れ

ユースケース
・プロジェクトの要求仕様でELDRS評価のエビデンス取得が必要となった
・将来的に使用する可能性のあるICについて、ELDRS特性を評価しておきたい
・ELDRS試験支援について不明な点が多く、どのように進めれば良いか不安がある
・社内リソースが不足しており、照射試験データ取得までのサポートが必要
是非、マクニカにご相談ください!
・放射線試験に関する知見/リソースが足りない
・国内の照射施設が予約できず、計画に影響がでてしまいそうだ
・海外の照射施設での試験条件に関心がある
・既存ソリューションの宇宙転用を検討している
などといったお悩み、ご相談をお持ちでしたらぜひ下記お問い合せフォームよりご相談ください。
マクニカの ”豊富な経験”と”高い技術”をもとにサポートさせていただきます。
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