外部メモリー・インターフェースの高速化に伴い、データ・バリッド・ウインドウ（データの有効なウィンドウ）の縮小や信号品質の悪化が課題としてあげられています。また発生する不具合現象についても、基板での接続不良からリード・データのビット化けなど、多岐にわたります。

このセミナーでは、インテルが提供する外部メモリー・インターフェース解析ツール “External Memory Interface Debug Toolkit” を使い、外部メモリー・インターフェースのマージン確認、不具合解析をおこなう方法について紹介します。

<対象のFPGA>

 - インテル® Stratix® 10 FPGA

 - Intel Agilex® 7 FPGA